Halbleiter-Test

Comptest MX ist die Bezeichnung der SPEA Mixed-Signal IC-Tester-Familie. Mit diesen Systemen werden parametrische und funktionelle Tests an analogen, digitalen oder mixed-signal IC’s durchgeführt, wobei der gleichzeitige Test (Multisite Test) von IC’s möglich ist.

Mögliche Applikationen sind

  • Smart cards
  • Contactless Smart cards
  • MEMS
  • LCD controllers & driver
  • Multimedia
  • Car immobilizer
  • DECT
  • Telephone
  • Fiber optics driver/amps
  • TV & VCR tuners
  • DAC & ADC
  • Mikrocontroller
  • Automotive
  • Lineare IC’s
  • Sensoren
  • Transducers
  • Hybride
 
Halbleiter-Test
Halbleiter-Test
H 350 Halbleiter Testsystem
H 350 Halbleiter Testsystem
 

Halbleiterprüfung, Messung, Elektronik

Smart cards, Contactless, MEMS, LCD, controllers, driver, Multimedia, Car, immobilizer, DECT, Telephone, Fiber, optics, driver/amps, TV & VCR tuners, DAC & ADC, Mikrocontroller, Automotive

Optische, automotive, Tests, Halbleiter

Lineare, IC’s, Sensoren, Transducers, Hybride, Comptest MX, SPEA Mixed-Signal IC-Tester
Halbleiter: parametrische und funktionelle Tests an analogen, digitalen oder mixed-signal IC’s, SPEA

Halbleiter-Test, parametrische, funktionelle