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  • Test semi-conducteur, Comptest MX, SPEA Mixed-Signal IC-Tester

Test semi-conducteur

Comptes MX est le nom de la famille des testeur Mixed-Signal IC de SPEA. Avec ces systèmes, on fait des tests paramétriques et fonctionnelle des signales analogiques, numériques et au Mixed-Signal IC, avec la possibilité des tests simultanés des IC (MultisiteTest).

Les applications possibles sont

  • SmartCards
  • Contactless Smart cards
  • MEMS
  • Controlleur & driver LCD
  • Multimedia
  • Système d'immobilisation voiture
  • DECT
  • Téléphone
  • Driver fibre optique/amps
  • Tuner TV & VCR
  • Convertisseur DA et AD
  • Microcontrôleur
  • Automotive
  • IC linéaires
  • Capteurs
  • Transducteurs
  • Hybride
 
Test semi-conducteur
Test semi-conducteur
H 350 Système de test semi-conducteur
H 350 Système de test semi-conducteur
 

H1: Test semi-conducteur SmartCards, Contactless Smart cards, MEMS, Controlleur & driver LCD, Multimedia, Système d'immobilisation voiture, DECT, Téléphone, Driver fibre optique/amps, Tuner TV & VCR,

Test semi-conducteur

SmartCards, Contactless Smart cards, MEMS, Controlleur & driver LCD, Multimedia, Système d'immobilisation voiture, DECT, Téléphone, Driver fibre optique/amps, Tuner TV & VCR, Convertisseur DA et AD, Microcontrôleur, Automotive, IC linéaires, Capteurs, Transducteurs, Hybride

Tests semi-conducteur, paramétriques, fonctionnelle